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產品簡介
白光干涉儀S neox的透明材料測量：Sensofar S neox光學輪廓儀結合共聚焦模式與專用算法，有效克服透明材料測量中因折射和多重反射導致的干擾，實現對其表面形貌與薄膜厚度的精確表征。
產品分類
白光干涉儀S neox的透明材料測量
透明或半透明材料，如玻璃、聚合物薄膜、光學涂層、生物材料等，在眾多領域有廣泛應用。對這些材料進行表面形貌測量，是質量控制和研究開發中的重要環節。然而，透明材料會給傳統的光學測量方法帶來挑戰，主要原因是光線在穿過材料表面時會發生折射，并在上下界面產生反射，干擾真實的表面形貌信息。Sensofar S neox 3D光學輪廓儀通過其多模式測量技術和專用軟件算法，為透明材料的測量提供了可行的思路。
總之，Sensofar S neox通過結合共聚焦技術的優勢和白光干涉模式的*算法，為透明材料的表面形貌測量提供了有效的工具。它使得對玻璃基板平整度、光學元件表面質量、高分子薄膜粗糙度等的定量分析變得更加可行，拓展了光學輪廓儀的應用范圍。
白光干涉儀S neox的透明材料測量