Sensofar S neox：溫控環境下的樣品測量

產品簡介

Sensofar S neox：溫控環境下的樣品測量
研究不同溫度條件下的樣品特性，需要測量設備具備環境模擬能力，S neox的溫控擴展設計恰好滿足這一需求。

產品型號：

更新時間：2025-10-27

廠商性質：代理商

訪問量：57

產品咨詢 17701039158

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產品

白光干涉儀S neox：微透鏡陣列表征的精密利器

打破測量瓶頸！Sensofar ePSI 技術，高精度表面檢測的 “全能選手”

Sensofar共聚焦白光干涉儀：玻璃表面質量的精密檢測方案

S mart 2：革命性面測量系統，讓工業自動化更智能、更簡單！?

詳細介紹在線留言

Sensofar S neox：溫控環境下的樣品測量

Sensofar S neox：溫控環境下的樣品測量

研究不同溫度條件下的樣品特性，需要測量設備具備環境模擬能力，S neox的溫控擴展設計恰好滿足這一需求。

產品細節上，機身側面預留專用接口，可快速連接低溫樣品臺與加熱樣品臺，低溫范圍覆蓋 - 196℃至室溫，加熱可從室溫升至 300℃，能模擬環境與常規溫度條件。接口采用快速插拔設計，更換溫控模塊時無需專業工具，配合對應的樣品夾具，可固定不同材質的溫敏樣品。軟件支持溫度參數預設與實時監控，觸控屏上能直觀查看當前溫度與測量進度。

性能方面，溫控模塊與測量系統協同工作，在溫度下仍能保持測量穩定性。例如在 - 196℃的低溫環境中測量生物組織冷凍形態，共聚焦模式能清晰呈現細胞結構；300℃高溫下檢測金屬材料熱變形，干涉模式可捕捉微小的面形變化。設備的閉環控制系統會實時調整參數，減少溫度變化對測量精度的影響，多次測量偏差保持在 3% 以內。

用材上，溫控樣品臺采用耐高低溫合金材質，與樣品接觸部分經過防腐蝕處理。連接線纜選用耐高溫、耐低溫的特種線材，確保環境下的信號傳輸穩定。

溫控測量參數簡表