布魯克ContourX-100：三維形貌測量好助手
在精密制造、材料科學等領域，對物體表面三維形貌的精準測量是保證產品質量和研究深度的重要環(huán)節(jié)。三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借*的光學技術和穩(wěn)定的性能，成為眾多實驗室和生產車間的實用選擇。
產品細節(jié)：設計貼合測量需求
ContourX-100 的機身采用高強度鋁合金框架，表面經過陽極氧化處理，不僅質感優(yōu)良，還具備一定的防腐蝕能力，能適應車間或實驗室的復雜環(huán)境。設備的工作臺面為高精度花崗巖材質，具有良好的穩(wěn)定性和平面度，可減少環(huán)境振動對測量的影響。工作臺下方配備精密導軌，支持 X、Y 方向的手動或自動移動，移動過程平穩(wěn)順滑，便于調整樣品位置。
光學系統(tǒng)是 ContourX-100 的核心部分，采用非接觸式測量設計，搭載高分辨率相機和多組光學鏡頭，鏡頭焦距可根據(jù)測量范圍靈活切換。設備的照明系統(tǒng)采用 LED 冷光源，亮度可調節(jié)，能避免因光源發(fā)熱對樣品造成影響，同時保證成像清晰穩(wěn)定。操作面板集成在設備前端，按鍵布局合理，配合高清觸摸屏使用，參數(shù)設置和操作流程直觀易懂。
設備還內置了防塵罩，可在不使用時將光學鏡頭和工作臺覆蓋，防止灰塵進入影響測量精度。機身側面預留了多個數(shù)據(jù)接口，支持與電腦、打印機等設備連接，方便數(shù)據(jù)的傳輸和報告生成。
產品性能：穩(wěn)定輸出可靠數(shù)據(jù)
ContourX-100 采用白光干涉技術進行三維形貌測量，測量范圍覆蓋從納米級到毫米級，能滿足不同精度要求的測量任務。其縱向分辨率可達納米級別，橫向分辨率也處于較好水平，可清晰捕捉樣品表面的微小起伏、劃痕、凹陷等細節(jié)。
設備的測量速度較快，對于常規(guī)尺寸的樣品，幾分鐘內即可完成一次完整的三維掃描，并生成直觀的三維形貌圖和量化數(shù)據(jù)。測量重復性較好，在相同條件下多次測量，結果偏差較小，能為質量檢測和科研分析提供可靠的數(shù)據(jù)支持。
ContourX-100 的環(huán)境適應性較強，在溫度 20-25℃、濕度 40%-60% 的環(huán)境中能保持穩(wěn)定性能。設備內置溫度補償功能，可減少環(huán)境溫度波動對測量結果的影響，進一步保證數(shù)據(jù)的準確性。
用材、參數(shù)與用途
ContourX-100 的關鍵部件選用高品質材料，光學鏡頭采用低色散玻璃，減少光線折射誤差；傳動部件采用精密滾珠絲杠和直線導軌，確保運動精度；傳感器選用高靈敏度器件，提高信號采集質量。
部分參數(shù)如下：
該設備廣泛應用于精密制造、半導體、材料科學等領域。在精密制造中，可用于檢測刀具、模具的表面粗糙度和磨損情況；在半導體行業(yè)，適用于芯片表面缺陷檢測和薄膜厚度測量；在材料科學中，能分析新材料的表面形貌與性能之間的關系。
使用說明
使用前需檢查設備是否放置平穩(wěn)，環(huán)境溫度和濕度是否符合要求。將樣品放置在工作臺上，調整樣品位置，使測量區(qū)域位于鏡頭下方。打開設備電源，通過觸摸屏選擇合適的鏡頭和測量模式，設置掃描范圍、分辨率等參數(shù)。
啟動測量后，設備會自動進行掃描和數(shù)據(jù)采集，過程中避免觸碰設備或樣品。測量完成后，系統(tǒng)會自動生成三維形貌圖和粗糙度、臺階高度等量化數(shù)據(jù)，可通過軟件進行數(shù)據(jù)分析和報告生成。
使用完畢后，關閉設備電源，清理工作臺面，蓋上防塵罩。定期對光學鏡頭進行清潔，可用專用鏡頭紙輕輕擦拭；每月檢查導軌潤滑情況，必要時添加專用潤滑劑；每季度進行一次精度校準，確保測量結果的可靠性。
三維光學輪廓儀 ContourX-100 以其貼合需求的細節(jié)設計、穩(wěn)定的性能和廣泛的用途，為三維形貌測量工作提供了有力支持，是精密測量領域的實用助手。
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