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布魯克白光干涉光學輪廓儀科研測量好搭檔

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉光學輪廓儀科研測量好搭檔
在科研實驗中，精準把握材料表面微觀形貌至關重要。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學輪廓儀，憑借實用設計與穩(wěn)定性能，成為科研人員的得力助手。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-21

廠商性質：代理商

訪問量：192

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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在科研實驗中，精準把握材料表面微觀形貌至關重要。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學輪廓儀，憑借實用設計與穩(wěn)定性能，成為科研人員的得力助手。

布魯克白光干涉光學輪廓儀科研測量好搭檔

產(chǎn)品細節(jié)

ContourGT - K 機身設計緊湊，能輕松融入實驗室環(huán)境。操作面板布局清晰，按鍵標識易懂，搭配高清顯示屏，操作人員可快速完成參數(shù)設置。樣品臺采用精密導軌結構，移動平穩(wěn)，可靈活調整樣品位置，確保測量區(qū)域精準。設備光學系統(tǒng)封裝嚴密，有效隔絕外界灰塵與雜光干擾。

產(chǎn)品性能

該輪廓儀融合白光干涉與光學成像技術，可清晰呈現(xiàn)樣品表面三維形貌。測量過程中運行穩(wěn)定，數(shù)據(jù)采集連續(xù)，多次測量結果一致性較好。對光滑與粗糙表面均有良好適應性，能滿足不同材料的測量需求。測量范圍可靈活調節(jié)，兼顧小區(qū)域精細檢測與大面積掃描。

用材講究

核心光學元件選用高透光率玻璃，減少光線損耗，保證成像清晰。機械傳動部件采用耐磨合金材料，延長使用壽命，維持運動精度。設備外殼采用防腐金屬材質，保護內部部件，適應實驗室多樣環(huán)境。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
橫向分辨率	適配常規(guī)科研測量需求
縱向測量范圍	多檔位可選
樣品臺尺寸	200mm×150mm
測量速度	隨樣品情況可調
數(shù)據(jù)接口	支持 USB、以太網(wǎng)連接